贵金属元素分析仪是一种用于快速、准确地测量各种贵金属元素含量的仪器。这些仪器通常使用非破坏性技术，以避免对测试样品造成任何损害。
贵金属元素分析仪可以使用多种不同的技术进行测试，包括X射线荧光光谱法（XRF）、原子发射光谱法（AES）、电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）等。其中，XRF技术是最常用的技术之一，因为它具有诸多优点，如非破坏性、快速、准确、可靠、易于操作等。
使用贵金属元素分析仪可以分析多种贵金属元素，如金、银、铂、钯等。这些元素在许多行业中都有广泛应用，如珠宝、货币、电子、航空航天、汽车等。分析这些元素的含量对于确定它们的真实价值至关重要。
贵金属元素分析仪的工作原理是基于每个元素都具有特定的原子结构，因此当被激发时，它们会发射出特定的电磁波谱线。通过测量这些谱线的强度和频率，可以确定样品中每个元素的含量。
使用贵金属元素分析仪需要遵循一定的操作流程。首先，将测试样品放入仪器中，并确保它们充分接触探头。然后通过按下按钮或进行其他适当的操作以启动测试程序。在测试期间，仪器会向样品发射X射线或其它能激发元素的辐射，然后测量样品所产生的特定谱线的强度和频率。最后，根据这些数据计算出每个元素的含量并显示在屏幕上。
UX-贵金属元素分析仪参数：
分析软件：Ux-贵金属分析软件
分析元素种类：26种元素可同时分析
分析方法：基本参数法(定量)
分析元素范围：Na-U,可同时分析26种元素
测量范围：ppm-%
测量时间：-s
精确度：0.1%(常量相对误差)
分辨率：±5eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—0uA
功率：W
外形尺寸：(W)*(D)*(H)(mm3)
样品仓尺寸：(W)*(D)*(H)(mm3)
重量：约48Kg
工作环境：15-30°C，相对湿度≤85%(不结露)
工作电源：AC-V，50/60Hz，W
